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产品详情

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AXOMETRICS 偏光测定设备

可快速量测相位delay、偏光(Retardance、Polarization),使得以有效运用偏光材料元素。
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♦ Axometrics偏光测定仪,为目前偏极化量测中快速的测量系统。

♦ 快速测量快轴方位角度(Fast-axis Orientation)、相位延迟(Retardance)、偏光(Polarization)。

♦ 线性/椭圆/圆形的偏极化测量

♦ 多波长Retardance频谱的RO(400-800nm)

♦ 快速测量Biaxial Films Ro、Rth和 B。

♦ 具有旋转/倾斜机构,于测量时旋转角度可掌握。

♦ 无须裁切待测物(Sample)

♦ 操作容易的软体介面

♦ 客制化测量模组组合

♦ 配合CCD影像系统及光学镜头,可测量各样品中微观区域内的各项参数



♦ 多波长延迟片/相位差板(In Plate or Out of Plate)测量

♦ 偏光片(板)测量多层膜(Ro,Rth,B)

♦ 快轴方位角度测量(Fast Axis Orlentatlon)

♦ LCOS晶圆Retardance和电压特性关系的测量

♦ 液晶(LCD)、LCOS Cell Gap的测量。

♦ 液晶(LCD) Pretlltangle 的测量

♦ 3D Film的测量。(FPR)

♦ 多面向的LCD的量测(PSVA Multi一Domain)


Poincare sphere 显示可更清楚的了解光的偏极化状态可量测出不同波长(400-800nm)下的相位差值波长的分散性。


Rth 值测量差距时具有可调控之校正机制,精密度高。



高速的测量可帮助各种补偿膜的发展研究。




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