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精密温控显微成像系统
INSTEC精密温控显微成像系统专为材料领域高低温成像而研发。集高低温环境控制、显微组织结构观察为一体。

●  超高精度高低温环境自动控制

●  高分辨率显微成像

●  一体控制软件

冻干显微镜系统
冻干显微镜在微观条件下模拟样品的冷冻干燥过程,在微量的样品前提下确立样品在冷冻干燥中的塌陷温度,确保下一阶段研发的安全。

●  超高精度低温环境自动控制

●  超宽稳定真空度自动控制

●  高分辨率显微成像

●  一体控制软件

高低温流体包裹体显微观测系统
专为流体包裹体变温观察而开发。集高低温环境控制、显微结构观察、控制软件为一体,为试验样品提供稳定、高精的测试环境,通过高分辨率的显微成像准确观察记录试验变化。

●  高精度高低温环境自动控制

●  高分辨率显微成像

●  一体控制软件

变温霍尔测试系统
INSTEC变温霍尔测试系统,为材料在不同温度、不同磁场强度以及不同测试条件提供解决方案。

●  H8200永磁铁系列——H8200由源测量单元、永磁铁组件、变温探针台和软件组成。本系统可以测试材料在不同温度下的霍尔效应。可以电动切换磁体极性方向,源测量组件为高精度电压电流源和传感一体机,测试软件结合了同时进行的样品温度控制,成像和电气测试的完整的软件包。

●  电磁铁变温测试系列——由变温探针台、电磁铁组件和软件组成。电磁铁组件由磁场可调的水冷电磁铁、高精度直流励磁电源、磁场采集高斯计、 组成, 磁场气隙单向可调,适用于霍尔效应研究

原位拉曼冷热台系统
INSTEC拉曼冷热台系统,为原位温控拉曼测试、高低温光电流测试两大应用领域提供优质解决方案

●  原位温控拉曼测试——解决常规拉曼测试无法为待测样提供变温环境问题,原位温控拉曼测试将变温台集成于拉曼光谱系统,在进行拉曼光谱测试的同时,冷热台为样品提供所需高低温环境。

●  拉曼光电流测试——用于测试二维材料的化学结构与光电流转换之间的相关性,实现空间分布的快速成像,并可扩展实现材料空间的偏振特性与光电流特性相关性,及高低温原位下材料结构与光电转换特性变化的空间分布成像。可进行拉曼图谱测试、拉曼光谱成像、光电流图谱测试、光电流成像、光致发光谱测试等。

多功能变温半导体分析测试系统
INSTEC多功能变温半导体分析测试系统,由高精度温控探针台、半导体参数测试仪两部分组成,用于材料研究、半导体器件设计和测试的分析测试。

●  纳米材料与器件:石墨烯、碳纳米管、纳米线、低功耗纳米结构

●  半导体结构:晶圆、薄膜

●  有机材料与器件:电子墨水、印刷电子技术

●  能量效率与照明:LED/AMOLED、光伏/太阳电池、电池

●  分立器件与无源组件:    

    两端器件: 电阻器、二极管、齐纳二极管、LED、传感器

    三端器件:场效应晶体管 (FET),COMS 器件和有机半导体器件等

材料特性分析:同时进行电流-电压 (I-V)、电容-电压 (C-V) 和超快脉冲 I-V 电学测试。使用其可选的 4200A-CVIV 多通道开关模块,便捷切换 I-V 和 C-V

动态配气温控探针台测试系统
INSTEC动态配气探针测试系统,由高精温控探针台、高精度源表、多组分动态配气组件三部分组成,适用于气敏器件,变温情况下的研究。

●  探针台——集样品温控、探针电测试、外部光学观察、腔室气氛环境控制为一体,外置电学 BNC 接口,为材料器件电学测试提供便捷精准的解决方案。

●  配气系统——根据气体方程式,仪器可自动计算配比浓度。采用国际通用的质量流量混合配气法,整个系统气路均采用防腐防吸附内表面抛光处理的不锈钢管或者聚四氟乙烯管,2~12通道可选

高温高压石油沥青显微测试系统
INSTEC高温高压石油沥青显微测试系统——专为石油行业沥青中间相的研究而开发。

●  高精环境温度自动控制

●  压力腔

●  高分辨率显微成像

●  一体控制软件

●  双加热区,双面加热,温度均匀性更佳

DIC温控显微位移应变测量系统
NSTEC-DIC显微位移应变测量系统——专为显微位移应变测量而开发。由变温拉伸台、显微DIC两部分组成。

●  拉伸台——可在-190℃ ~ 350℃ 范围内控温, 同时允许光学观察和样品气体环境控制。力学模式可扩展至:拉伸、压缩、剪切、三点弯。适用于金属材料、生物 骨材料、陶瓷材料、高分子材料等。

●  显微DIC——显微镜 DIC 弥 补了传统 3D 测量无法进行微小物体变形测量的不足,成为微观尺度领域变形应变测量的一个有力工具,应用于微观形貌、应变分析。

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